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探傷

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超聲波探傷儀試塊的種類及用途

發(fā)布時間:2019/12/20 9:26:03

超聲波探傷儀檢測中,常常采用與已知量相比較的方法來確定被檢物的狀況。例如在射線探傷中,是以透度計的影像來作為比較的依據(jù)。超聲波探傷中是以試塊作為比較的依據(jù)。試塊上有各種已知的特征,例如特定的尺寸,規(guī)定的人工缺陷,即某一尺寸的平底孔、橫通孔、凹槽等。用試塊作為調(diào)節(jié)儀器、定量缺陷的參考依據(jù),是超聲波探傷的一個特定。超聲波探傷的發(fā)展,已知與試塊的研制、使用分不開。


超聲波探傷儀試塊的用途

確定合適的探傷方法:在超聲波探傷中,可以應(yīng)用在某個部位有某種人工缺陷的試塊來摸索探傷。在這種試塊上摸到的探傷規(guī)律和方法,可應(yīng)用到與試塊同材質(zhì)。同形狀。同尺寸的工件探傷中去。


確定探傷靈敏度和評價缺陷大小:對于不同種類,不同厚度、不同要求的工件,需要不同的探傷靈敏度。為了確定探傷時的靈敏度,就需要帶有各種人工缺陷的試塊。用人工缺陷的波高來表示探傷靈敏度。這是試塊常用的一種方法。為了評價工件中某一深度缺陷大小,用試塊中同一深度各種尺寸的人工缺陷與之相比較,這就是探傷中應(yīng)用的缺陷當(dāng)量法。


效驗儀器和測試探頭性能:通過試塊可以測試儀器聲或探頭的性能,以及儀器和探頭鏈接在儀器的系統(tǒng)綜合性能。


超聲波探傷儀試塊的種類

根據(jù)試塊的用途,試塊可以分為三大類:


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1、調(diào)節(jié)儀器及測試探頭的試塊,如CSK-IA試塊。

2、縱波探傷用試塊,人工缺陷為平底孔。

3、橫波探傷用試塊,人工缺陷為橫孔,如JB/T4730標準中規(guī)定的CSK-ⅡA和ⅢA試塊。